高精度光學(xué)三維形貌測量?jì)x

瀏覽：2732 作者：集萃華科時(shí)間：2022/5/30 10:25:52 分類(lèi)：測量裝備

Zeus是高精度的光學(xué)三維形貌檢測平臺，采用先進(jìn)的直驅閉環(huán)運動(dòng)控制，搭載多種光學(xué)檢測頭完美實(shí)現三維輪廓高速掃描測量。Zeus平臺具備完整的軟件功能，可在現代外觀(guān)下進(jìn)行直觀(guān)的操作，輕松完成三維形貌分析，截面輪廓分析、GD&T尺寸分析、粗糙度分析、2D圖像尺寸測量和分析等功能。滿(mǎn)足不同類(lèi)型產(chǎn)品尺寸和外觀(guān)檢測的需求。

產(chǎn)線(xiàn)高難度測量一站式解決方案

Zeus專(zhuān)注于高要求和快速的測量需求。穩定的結構設計使得在各種應用環(huán)境，包括在線(xiàn)，現場(chǎng)和實(shí)驗室，均能夠精準測量。強大的Zeus軟件既能滿(mǎn)足產(chǎn)線(xiàn)自動(dòng)化重復檢測需求，又能針對實(shí)驗室的各種不同要求進(jìn)行靈活配置。

快速精準
Zeus支持一系列高精度傳感器技術(shù);
對于速度要求特別高的檢測需求，我們有高精度光譜共聚焦線(xiàn)傳感器可供選擇;而對于要求最高極限分辨能力的測量要求，應用圖像共聚焦面傳感器則能提供最高測量精度時(shí)保證測量速度。

測量范圍
ZeusXY運動(dòng)平臺行程高達400 mm x400 mm并且可選大理石底座平臺。一方面，最大高度測量范圍可達4mm;另一方面，最大高度分辨能力高達1nm;這使Zeus能夠輕松應對最嚴苛的測試任務(wù)，傳感器最高可達到36萬(wàn)測點(diǎn)/秒亞微米及分辨率。

案例應用

測量項目

應用領(lǐng)域

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